泰凌第二代测试平台

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概述

泰凌第二代测试平台使用TLSR8266芯片，用于基于泰凌芯片的各类PCB板的测试，包含电流、Flash、SRAM、Deep sleep/Suspend、RF以及烧录等。第二代测试平台最多支持8个设备同时测试，且支持每个设备单独测试。可同时支持多套扩展，最多可扩展至32个设备。

文档主要介绍测试平台用到的硬件、测试连接方式和脚本配置内容，并以TLSR951X Demo治具为例，协助使用者快速熟悉及使用该平台。

硬件介绍

测试平台硬件

泰凌第二代测试平台包含的硬件如下：

编号	所属类别	名称	数量	描述
1	Main board	第二代测试平台底板	1	测试平台底板
2	JIG EVK	第二代测试平台子板	8	测试平台子板，插在底板上使用
3	Display board	按键/LEDS外接板	1	方便治具测试使用的LED/按键外接板
4	通用配件	胶棒天线	8	配合JIG EVK使用
5	通用配件	DC 9V/2A电源适配器	1	为底板供电
6	通用配件	USB数据线	1	Type-A to Type-C USB数据线，连接底板和PC，接在底板“HUB”字样端口
7	通用配件	RF Cable	8	JIG EVK子板射频外接延长线
8	定制配件	Type-C To Type-C接口形式连接线	2	定制Type-C to Type-C接口形式的数据连接线，用于连接底板和按键/LEDS外接板

主要硬件介绍

测试平台底板

底板主要承担以下功能：

(1) 连接JIG EVK子板，最多支持8 Site【接口见下图红框3位置】。

(2) 通过定制Type-C连接线连接按键/LEDS外接面板【接口见下图红框5位置】。

(3) 为测试系统供电：

a. 底板 & JIG EVK子板电路供电【接口见下图红框1位置】；

b. 预留长输出3.3V & 5V【接口见下图红框4位置】。

(4) 支持HUB功能，实现子板和端PC上位机通信，目前最多支持8 Site【接口见下图红框2位置】。

(5) DUT测试接口，提供两种方式【接口见下图红框6位置】:

a. 第1种：2 x 2.54mm间距排针接口，客户可通过2.54mm间距排线与DUT短接在一起。

b. 第2种：提供3组Type-C接口，可配合定制的Type-C连接线与DUT连接；客户需要在DUT治具端预留Type-C端口来对接，注意管脚线序的定义。

测试平台JIG EVK子板

子板是测试使用的核心板，JIG EVK通过排针与底板对接，每个JIG EVK对接1个DUT板。

供电形式：单独使用时由USB-5V供电；配合底板使用时由底板-5V供电。

主要功能规格：

(1) 支持TXCO，Tolerance：±2.5ppm；

(2) 默认SMA-FEMALE射频接头，外接天线或RF Cable；

(3) 可以提供不同DUT供电电压：

a. ADJ-LDO支持的输出电压：3.3V/2.8V/2.5V/2.1V/1.8V；

b. 支持可控5V供电电压，如Dongle等5V供电应用可使用。

(4) 支持高精度电流检测，JIG EVK子板默认不贴5V供电时的电流测试电路；

(5) 支持不同电压GPIO通信；

(6) 支持OTP烧录；

(7) 支持eFuse烧录；

(8) 支持Type C USB：

a. JIG EVK单板使用时通过Type-C USB供电 & 与PC上位机通信；

b. JIG EVK在底板上时，由底板供电 & 通过底板HUB电路与PC上位机通信。

JIG EVK子板硬件接口介绍：

(1) JIG EVK子板烧录接口。

• 通过USB Type-C烧录;

• 通过SWS烧录【PIN01：SWS】，见下图红框位置。

(2) 长输出5V & 长输出3.3V接口，参考下图。

(3) DUT测试接口，参考下图。

(4) LED及功能按键，4颗LED及2个按键对应IO口分配，参考下图。

按键/LEDS外接板

(1) 按键/LEDS外接板是配合客户端治具使用的板子，可以通过该板子按键来控制单个SITE测试或整体测试。

• SITEX（X代表1~8）：对应8个SITE单独测试；

• MAIN SW：全部SITE测试。

(2) 板子通过右端Type-C USB接口 & 定制Type-C to Type-C数据线与底板连接。

(3) LED提供红、黄、绿三色提示状态。

(4) 板子左侧预留BUSY状态脚接口。

通用配件

硬件中提供2.4G胶棒天线、USB Type-C数据线、DC 9V/2A电源适配器和RF Cable。

• 2.4G胶棒天线：DUT RF测试及频偏校准等项目中使用；

• USB Type-C数据线：底板HUB电路通过USB数据线同上位机通信；

• DC 9V/2A电源适配器：为系统供电；

• RF Cable：射频延接线，SMA-MALE转SMA-FEMALE。

定制配件

定制Type-C to Type-C数据线是使用24Pin USB Type-C公头做的连接线，两端的接头一一对应，主要作为导线使用。

定制线目的：

(1) 连接底板和按键/LEDS外接板；

(2) 连接底板和被测DUT板。

注意：

需要客户制作DUT治具时预留对应的Type-C接口，Telink提供对应的Type-C接口定义及封装。

目前底板支持两种方式连接DUT板，客户根据需求选择：

(1) 使用排线通过2.54mm间距排针接口接DUT；

(2) 使用定制Type-C线。

测试硬件连接

硬件连接方式

硬件连接示意图如下：

注意点：

(1) JIG EVK子板RF座朝上与底板对接，上图黄色区域；

(2) 按键/LEDS外接板需要用到两根定制线；

(3) DUT根据需求选择定制线材或是其他适用的线材连接；

(4) 天线根据治具实际环境配合RF Cable来固定位置。

底板DC-9V电源连接

使用配套的DC直流适配器插入电源插座，为底板供电，如下图：

底板HUB电路接口

底板标注为“HUB”的USB Type-C端口用来接测试电脑，与上位机软件通信，如下图所示：

JIG EVK子板与底板连接

8个JIG EVK子板对应插到底板接口位置（套件出厂时已将子板插在底板），如下图所示：

底板与DUT连接

底板共有两种形式DUT测试接口：

(1) Site0 ~ Site7 8组2x10-2.54mm间距排针接口。

a. 图中红框位置为排针接口网络定义，8组管脚网络定义相同；

b. 底板与DUT接线如下：

    - V-DUT：为DUT供电、接DUT的VCC，可根据需求配置不同的电压；

    - V-REF：为匹配不同电压的IO口，JIG EVK子板端存在电平转换电路，DUT端提供IO口参考电压给到V-REF；

    - SWM：通信脚，接DUT的SWS；

    - GND：地线，与DUT端GND连接；

(2) 3组USB Type-C形式接口：

图中黄框标注位置，共有3个Type-C接口：

• Site0 ~ Site2整合在Data-01 Type-C接口；

• Site3 ~ Site5整合在Data-02 Type-C接口；

• Site6 ~ Site7整合在Data-03 Type-C接口。

注意：

使用该端口连接DUT时，需要客户制作治具时做对应的Type-C接口用于连接，Telink可提供接口的网络定义及器件封装或器件手册。

关于V-REF的补充：

新治具平台因兼容其他不同电压的IO，增加了电平转换电路，所以与DUT接口需要额外增加V-REF接线，这也是与之前治具接线上的比较明显差异。

因此，后续客户应用板设计，建议增加IO口参考电压的测点。

为兼容客户之前硬件设计，目前底板增加了可调ADJ-LDO电路，用于模拟DUT端的IO口电平，作为电平转换电路DUT端的参考电平。目前提供了3档可调电压：1.8V、2.5V、3.3V。具体操作如下：

(1) 利用底板上拨码开关U119（下图红框位置）设置LDO输出电压V-OP（V-OP输出电压配置可参考拨码开关旁丝印描述）；

(2) 利用跳帽短接V-REF和V-OP（如下图白色跳帽）；

(3) 然后底板与DUT连接V-DUT、SWM、GND这3根线即可。

单个JIG EVK子板与DUT连接

使用JIG EVK子板与DUT 1V1测试时，接线如下：

JIG EVK子板可提供不同电压给DUT，根据实际情况选择对应的VCC-DUT或是5V-DUT：

(1) VCC-DUT可提供的电压：3.3V/2.8V/2.5V/2.1V/1.8V，由软件控制LDO输出不同电压；

(2) 5V-DUT可提供的电压：5V。

底板与按键/LEDS外接板接线

底板和按键/LEDS外接板通过定制Type-C接口线连接，注意连接时的方向，以白色醋酸布为参考面：

(1) 需要接两根线，底板和按键/LEDS外接板根据丝印对应连接；

(2) 底板和外接板都正面朝上时，连接后线材的白色醋酸布面保持同一面（同时朝上或朝下），如下图所示：

DUT供电选择拨码开关设置

DUT共有两种供电路径：

(1) 5V电压供电 & ADJ LDO供电；

(2) 其中ADJ LDO可由软件配置输出不同电压（目前支持3.3V/2.8V/2.5V2.1V/1.8V五种电压）。

每Site都有一个双通道拨码开关，两个通道对应丝印为5V、3V3（3V3即为ADJ LDO供电路径）。

a. 默认3V3路径拨码开关拨至ON一侧导通，5V路径拨至OFF一侧；

b. 若需要5V供电，则将5V路径开关拨至ON一侧，3V3拨至OFF一侧。

注意：

不可将两路同时拨至ON一侧！

脚本配置

本文档以TLSR951X EVB作为DUT为示例。

脚本配置前需要关注事项

(1) JIG EVK硬件预准备（生产阶段完成）。

a. 硬件功能电路确认

b. 烧录匹配硬件的testbench_evk.bin

c. 烧录TP参数

d. JIG EVK加密

(2) testbench_evk.bin需放到EVK Monitor软件路径下，路径如下：EvkMonitor\config\bin。

注意：

如果这里不是匹配硬件的testbench_evk.bin而是旧bin，那么在后续下载脚本步骤时会把该路径下旧bin下载到JIG EVK里面，导致无法正常使用。

(3) 确认对应芯片下面的功能测试bin是释放的最新bin，避免不是最新bin导致的测试结果不准确或是无法测试。

(4) 配置EVK Monitor软件DUT测试数量。

软件默认是6 Site测试界面，而测试平台是8 Site，所以需要手动修改配置文件，改为12 Site测试界面。后续的新版本上位机测试平台会优化测试显示界面，支持8 Site界面。后续上位机会更新支持到32 Site。

路径及改动位置参见下图：

脚本配置

利用EVK Monitor软件配置脚本，以TLSR951X EVB为例。

软件登录

双击软件，输入对应Password登录对应权限界面：

利用模板生成原始脚本

EVK -> Configure -> Default Template打开模板配置界面：

Type Select：

(1) 选择芯片类型；

(2) 若需要烧录固件，则根据需求勾选boot1/boot2/boot3，导入固件路径；

(3) 通过箭头切换前、后配置界面。

Config1：

• Crystal：配置晶振规格；

• Debug_level：配置协助分析的Log详细程度，3最详细。

另外两个一般不需要用到。

Protect_2M_Flash_Calib_Value：

(1) 保护芯片出厂预烧录的校准值，避免备误擦除；

(2) 校准值位置可参考文档Flash Mapping中的规划。

Erase：

解除芯片Flash保护，定义Flash需要擦除的大小。

Sram_Cache：

对芯片Sram & Cache进行写、读操作测试。

Deep_Timer_Wakeup：

Deep状态功耗测试，设置进入Deep状态时间、Deep功耗阈值以及Deep唤醒。

Suspend_Timer_Wakeup：

Suspend状态功耗测试，设置进入Suspend状态时间、Suspend功耗阈值以及Suspend唤醒。

RF：

DUT RF Tx power测试、Rx收包测试及频偏校准。

Burning：

DUT烧录测试，主要包括如下3部分：

(1) MAC烧录（需根据配置）；

(2) 固件烧录；

(3) 频偏校准值烧录。

配置完后，点击红框笔头按钮，会自动生成对应脚本同时弹出烧录界面对话框。

脚本注意点补充

基于模板自动生成的脚本还有一些地方需要手动改动或注意。

自动生成的脚本test.tls路径如下：

打开脚本文件，注意如下几点：

(1) 增加DUT供电电压配置语句：config[62] = X

常用的两个电压配置如下：

a. config[62] =6  #VCC_DUT3.3V

b. config[62] =7  #5V_DUT

(2) LED指示灯配置

通过修改脚本led_state(0x00,0x01,0x02,0x04,0x08)语句可以根据需求控制LED行为。

语句解释：

led_state(start_s,run_s1,run_s2,ok_s,err_s)

• start_s：本脚本运行完后的LED灯状态；

• run_s1：脚本运行时LED状态1；

• run_s2：脚本运行时LED状态2；

• ok_s：脚本结束，测试结果正确时LED状态；

• err_s：脚本结束，测试结果错误时LED状态。

以上5个状态均由字节低4位来控制4个LED，映射关系如下：

例如0x01---->0000 0001---->LED3 LED2 LED1 LED0---->PIN36 PIN35 PIN32 PIN31（芯片控制管脚）。

烧录更新后的脚本

(1) 实际生产中，可能根据需求对基于默认模板生成的脚本做对应的改动；

(2) 脚本更改完成后，保存脚本文件，切回到Burning章节中的Download界面，也可以通过下图路径重新打开Download界面：

(3) 点击“Download”按钮，会依次对每个JIG EVK下载程序。

EVK自检

(1) 烧录脚本后，关闭Download界面，回到软件主界面可看到创建的测试序列，见下图红框标注位置；

(2) 点击主界面“Check”按钮，弹出Check界面，点击“Check”按钮做EVK自检；

(3) 确认EVK烧录程序是否正确，所有SITE均显示OK后即可关闭Check界面。

创建测试数据库

(1) 如果一天内第一次运行，点击“START”按钮会自动在Database文件夹下创建数据库文件，如下图所示：

(2) 创建数据库后，测试“RUN”由灰度使能，可以做后续相应的测试。

(3) RUN按钮后面的run_times为自定义的测试次数，例如当前为8 SITE，每跑一次会累计加8。

Demo治具制作示例

该章节以实际的TLSR951X Demo治具为例，展示实际接线形式，可作参考使用。

(1) 将底板固定在治具上。

(2) 连接底板与DUT接线（V-REF由底板提供参考电压）。

a. 每Site接3根数据线到DUT（VCC-DUT/SWM/GND）。

b. 每Site JIG EVK RF PORT通过RF Cable与胶棒天线连接。

c. RF耦合测试时，胶棒天线尽量靠近DUT天线；同时，不同Site的天线与对应的DUT位置尽量一致。

(3) 连接底板与按键/LEDS外接板。

通过定制Type-C数据线连接外置按键板与底板。

(4) 连接DC-POWER及HUB Type-C数据线。