B80 BLE单连接SDK电流测试报告

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测试环境

软件和硬件

测试用的硬件和软件如下：

• 测试板：带有TLSR8208AER芯片的TLSR8208ADK56(C1T261A30_V1.1)
• SDK：b80_ble_single_connection_sdk(V3.4.1.0)
• 测试工具：Agilent Precision DC Power Analyzer(Model:N6705B), Multimeter FLUKE 287C
• 电源：Agilent_N6705供电

测试方法和测试项目

测试方法

使用Agilent N6705B对测试板进行2.2V和3.3V供电，当测试板进行广播时，使用Agilent N6705B记录测试板广播态下的电流波形和数据；将测试板连接8208 dongle，使用Agilent N6705B记录测试板连接态下的电流波形和数据。

测试项目

(1) 广播态下电流测试

广播态下电流测试条件如下：

• Power supply: 2.2V, 3.3V
• ADV type: CONNECT_12B_1S_3CHANNEL, UNCONNECT_16B_1S_3CHANNEL
• TX power: 0dBm, 3dBm
• Low power Mode: Suspend, Deep Retention
• 32K clock source: Internal 32KHz RC, External 32KHz Crystal

(2) 长连接下电流测试

长连接下电流测试条件如下：

• CL (Connection Interval): 10 ms
• SL (Slave Latency): 99
• Power supply: 2.2V, 3.3V
• TX power: 0dBm, 3dBm
• Low power Mode: Suspend, Deep Retention
• 32K clock source: Internal 32KHz RC, External 32KHz Crystal

广播态下测试

广播态下测试条件1：

• Power supply: 3.3V
• ADV type: CONNECT_12B_1S_3CHANNEL
• TX power: 3dBm
• Low power Mode: Suspend
• 32K clock source: Internal 32KHz RC

广播态下测试条件2：

• Power supply: 3.3V
• ADV type: CONNECT_12B_1S_3CHANNEL
• TX power: 3dBm
• Low power Mode: Deep Retention
• 32K clock source: Internal 32KHz RC

广播态下测试条件3：

• Power supply: 3.3V
• ADV type: UNCONNECT_16B_1S_3CHANNEL
• TX power: 3dBm
• Low power Mode: Suspend
• 32K clock source: Internal 32KHz RC

广播态下测试条件4：

• Power supply: 3.3V
• ADV type: UNCONNECT_16B_1S_3CHANNEL
• TX power: 3dBm
• Low power Mode: Deep Retention
• 32K clock source: Internal 32KHz RC

广播态Internal 32K RC各个测试条件下的平均电流如下：

广播态External 32K Crystal各个测试条件下的平均电流如下：

长连接下测试

默认条件：CL (Connection Interval): 10 ms，SL (Slave Latency):99，CL * (SL + 1) = 1 s

长连接下测试条件1:

• Power supply: 3.3V
• TX power: 3dBm
• Low power Mode: Suspend
• 32K clock source: Internal 32KHz RC

长连接下测试条件2:

• Power supply: 3.3V
• TX power: 3dBm
• Low power Mode: Deep Retention
• 32K clock source: Internal 32KHz RC

长连接各个测试条件下的平均电流如下：