TL321x BLE多连接SDK电流测试报告

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简介

TL321x BLE多连接SDK电流测试报告适用于泰凌TL321x系列芯片。

测试环境

软件和硬件

测试用的硬件和软件如下：

• 测试板：带有TL321x芯片的C1T331A20_V1.0/C1T335A20_V1.0
• SDK：tl_ble_sdk V4.0.4.2（注意：本报告基于该版本进行了代码优化，同时调整了系统时钟为XTAL_24M的电流测试）
• 测试工具：Agilent Precision DC Power Analyzer (Model: N6705B), Multimeter FLUKE 287C
• 电源：Agilent_N6705供电

测试方法和测试项目

测试方法

使用Agilent N6705B对测试板进行3.3V供电，当测试板进行广播时，使用Agilent N6705B记录测试板广播态下的电流波形和数据；将测试板连接8258 dongle，使用Agilent N6705B记录测试板连接态下的电流波形和数据。

使用下载器对测试板进行3.3V供电，将万用表Multimeter FLUKE 287C串入电路中，进行广播和长连接状态下的电流测试。

注：文中广播态和长连接的最后一个平均电流的表格均采用Multimeter FLUKE 287C的测得的数据，其余均采用Agilent N6705B测得的数据。

测试项目

（1）广播态下电流测试

广播态下电流测试条件如下：

• Power supply: 3.3V
• ADV type: CONNECT_12B_1S_3CHANNEL, UNCONNECT_16B_1S_3CHANNEL
• TX power: 0dBm, 3dBm
• Mode: LDO&DCDC mode
• 32K clock source: Internal 32KHz RC
• PM: suspend, deep retention

（2）长连接下电流测试

长连接下电流测试条件如下：

• CL (Connection Interval): 10 ms
• SL (Slave Latency): 99
• Power supply: 3.3V
• TX power: 0dBm, 3dBm
• Mode: LDO&DCDC mode
• 32K clock source: Internal 32KHz RC
• PM: suspend, deep retention

广播态下测试

CONNECT adv & 0dBm & Deep retention

广播态下测试条件1 (CONNECT adv & 0dBm & Deep retention)：

• Power supply: 3.3V
• ADV type: CONNECT_12B_1S_3CHANNEL
• TX power: 0dBm
• Mode: LDO&DCDC mode
• 32K clock source: Internal 32KHz RC
• PM: Deep retention

UNCONNECT adv & 0dBm & Suspend

广播态下测试条件2 (UNCONNECT adv & 0dBm & Suspend)：

• Power supply: 3.3V
• ADV type: UNCONNECT_16B_1S_3CHANNEL
• TX power: 0dBm
• Mode: LDO&DCDC mode
• 32K clock source: Internal 32KHz RC
• PM: Suspend

CONNECT adv & 3dBm & Deep retention

广播态下测试条件3 (CONNECT adv & 3dBm & Deep retention)：

• Power supply: 3.3V
• ADV type: CONNECT_12B_1S_3CHANNEL
• TX power: 3dBm
• Mode: LDO&DCDC mode
• 32K clock source: Internal 32KHz RC
• PM: Deep retention

UNCONNECT adv & 3dBm & Suspend

广播态下测试条件4 (UNCONNECT adv & 3dBm & Suspend)：

• Power supply: 3.3V
• ADV type: UNCONNECT_16B_1S_3CHANNEL
• TX power: 3dBm
• Mode: LDO&DCDC mode
• 32K clock source: Internal 32KHz RC
• PM: Suspend

广播态Internal 32K RC各个测试条件下的平均电流如下：

长连接下测试

0dBm & Deep retention

长连接下测试条件1 (0dBm & Deep retention):

• CI (Connection Interval): 10 ms
• SL (Slave Latency): 99
• Power supply: 3.3V
• TX power: 0dBm
• Mode: LDO&DCDC mode
• 32K clock source: Internal 32KHz RC
• PM: Deep retention

3dBm & Deep retention

长连接下测试条件2 (3dBm & Deep retention):

• CL (Connection Interval): 10 ms
• SL (Slave Latency): 99
• Power supply: 3.3V
• TX power: 3dBm
• Mode: LDO&DCDC mode
• 32K clock source: Internal 32KHz RC
• PM: Deep retention

0dBm & Suspend

长连接下测试条件3 (0dBm & Suspend):

• CL (Connection Interval): 10 ms
• SL (Slave Latency): 99
• Power supply: 3.3V
• TX power: 0dBm
• Mode: LDO&DCDC mode
• 32K clock source: Internal 32KHz RC
• PM: Suspend

3dBm & Suspend

长连接下测试条件4 (3dBm & Suspend):

• CL (Connection Interval): 10 ms
• SL (Slave Latency): 99
• Power supply: 3.3V
• TX power: 3dBm
• Mode: LDO&DCDC mode
• 32K clock source: Internal 32KHz RC
• PM: Suspend

长连接各个测试条件下的平均电流如下：